简介:
本发明属于铍矿分析测试技术领域,具体涉及一种原位微区定量分析铍含量的方法,采集铍矿石样品;铍矿石样品制作成探针片或光薄片;识别铍矿物,并对探针片或光薄片样品表面热蒸镀碳膜;铍矿物原位微区定量分析。通过配置针对超轻元素的大尺寸晶面间距的分光晶体,并配备脉冲高度分析器,可以实现铍矿物的原位微区定量分析,可对铍矿物进行微米级别的无损分析,有助于获取铍矿物在微区尺度的成分信息,运用该测试方法技术,没有复杂的样品制备过程,具有原位、微区、无损、实时、操作简便、灵敏度高等优势。
本发明属于铍矿分析测试技术领域,具体涉及一种原位微区定量分析铍含量的方法,采集铍矿石样品;铍矿石样品制作成探针片或光薄片;识别铍矿物,并对探针片或光薄片样品表面热蒸镀碳膜;铍矿物原位微区定量分析。通过配置针对超轻元素的大尺寸晶面间距的分光晶体,并配备脉冲高度分析器,可以实现铍矿物的原位微区定量分析,可对铍矿物进行微米级别的无损分析,有助于获取铍矿物在微区尺度的成分信息,运用该测试方法技术,没有复杂的样品制备过程,具有原位、微区、无损、实时、操作简便、灵敏度高等优势。