简介： 本发明的一种X射线荧光激发检测装置,属于载流X射线荧光品位分析技术领域。该X射线荧光激发检测装置用于检测矿物样品中的矿物品位,其包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置;所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上,并且X射线发生装置与样品承载装置相通,探测装置与样品承载装置相通。本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计,具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的优点。