简介： 本发明是根据新工作原理设计的新型同位素X荧光多元素分析仪。它有特殊设计的双探头非真空测量室,其轻元素探测器是铍窗厚度为25μ的高分辨率封闭式正比计数管,重元素探头为双源探头。同时采用了双通路512道脉冲处理器和独特的X荧光能谱数学解析技术,成功地解决了轻元素和相邻元素的定量分析问题,可以测定元素周期表中包括Al、Si等轻元素在内的大多数元素。本发明在冶金、地质、矿业、化工、建材等工业领域具有广泛的用途。