简介:
本发明提供了一种原位检测矿物微区EBSD图像的方法,采用配置了电子背散射衍射探头的双束扫描电镜进行检测,步骤如下:(1)将样品置于样品台上,密闭样品腔并抽真空,选取检测区域;(2)利用FIB功能将选取的检测区域内的样品制成切片,固定在FIB载网上使切片与样品台垂直,利用FIB功能将切片减薄成薄片样品;(3)①对薄片样品进行t‑EBSD检测,得到初始厚度下的样品微区EBSD图像;②利用FIB功能对薄片样品继续减薄,减薄过程中,利用SEM功能实时观察薄片样品的表面形态,当薄片样品表面出现纳米颗粒时,对出现纳米颗粒的区域进行t‑EBSD检测,得到包含纳米颗粒的样品微区EBSD图像;③重复步骤②的操作,得到不同厚度下包含纳米颗粒的样品微区EBSD图像。
本发明提供了一种原位检测矿物微区EBSD图像的方法,采用配置了电子背散射衍射探头的双束扫描电镜进行检测,步骤如下:(1)将样品置于样品台上,密闭样品腔并抽真空,选取检测区域;(2)利用FIB功能将选取的检测区域内的样品制成切片,固定在FIB载网上使切片与样品台垂直,利用FIB功能将切片减薄成薄片样品;(3)①对薄片样品进行t‑EBSD检测,得到初始厚度下的样品微区EBSD图像;②利用FIB功能对薄片样品继续减薄,减薄过程中,利用SEM功能实时观察薄片样品的表面形态,当薄片样品表面出现纳米颗粒时,对出现纳米颗粒的区域进行t‑EBSD检测,得到包含纳米颗粒的样品微区EBSD图像;③重复步骤②的操作,得到不同厚度下包含纳米颗粒的样品微区EBSD图像。