简介： 本发明公开一种激光辅助全反射X荧光铀矿痕量元素分析装置，其包括激发光源、探测装置、样品台、激光辅助分析装置、分析器及电路输出设备。本发明的优点在于：够快速、有效的样品定位及面积、厚度监测，克服样品的厚度、面积变化对全反射光学的影响，提高TXRF测量准确度。采用全反射X射线荧光分析原理，能够快速检测样品中痕量重金属的含量，简单快捷并且低成本；精度高，测量时间短，人为误差小，操作者劳动强度低；本发明X荧光测重金属仪无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠，使用方便。