简介： 本发明涉及一种适用于矿物学参数自动测量系统的样品制样方法，属于制样方法。采用的是矿样混合树脂胶进行冷嵌的方法，第一次冷嵌完成的树脂光片再剖切出横截面进行二次树脂镶嵌法，经过二次镶嵌后的树脂光片通过粗磨、细磨、精磨、抛光及表面导电处理后，制作成表面磨光面好，矿物代表性全面及具有良好导电性的矿物样品光片。本发明利用混合树脂胶二次冷嵌的方法所制做的样品具有分散性好，清晰易观察，矿物种类涵盖全面，代表性强等特点，且制样过程简单易操作，实用性强，应用广泛，制作的光片可适用于自动矿物学测量系统检测，也适用于电子探针、扫描电镜及金相显微镜下检测。