简介： 本发明公开了一种基于电子探针原位分析的全岩组份测试方法。对制作好的岩石光片或光薄片喷镀碳导电膜，将喷镀处理后的样品放入电子探针样品室进行分析，在450~550倍的放大倍数下拍摄背散射电子图像，对图像中的不同矿物用电子探针波谱仪进行精确定量分析，再对被拍摄的背散射图像使用网格法统计不同矿物所占的面积百分比。取同一种矿物不同分析点的元素含量平均值与矿物的面积百分比的加权平均值得出的结果即为该岩石样品的全岩元素含量。本发明方法具有不破坏样品、原位微束分析、分析精度高、样品制备简单和无污染等优点，在陨石、宝玉石和珍贵稀有岩石样品分析中具有很好的应用前景。