简介： 本发明公布了一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，属于化学分析技术领域。通过利用熔融法将地质样品和标准品制备成玻璃片，然后利用标准品制定校准曲线，最后利用X-荧光光谱仪分析样品中Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu、Se、Ge的含量。该方法具有制样简单、操作方便、测量结果准确等优点。