简介： 本发明公开了一种纳米尺度分析地质样品晶体取向与相分布的方法，涉及地质检测技术领域，包括以下步骤：a1、制备电子束可穿透厚度的样品；a2、在STEM模式下拍摄感兴趣区域的形貌图；a3、以获取的形貌图为导航，并在STEM模式下进行二维扫描纳米束电子衍射数据采集、a4、通过计算机软件对采集的数据进行分析处理，进而在纳米尺度获得样品的晶体取向和相分布图。本发明在已有透射电镜不增加额外附件的基础上实现了纳米尺度地质样品晶体取向与相分布分析，具有实施成本低、效率高、可操作性和重复性强等特点，适合于在固体地球科学研究领域的广泛推广。