工作原理

OST-JX53MBD基于无限远色差校正光学系统，结合微分干涉（DIC）技术，通过在光路中嵌入诺曼斯基棱镜，将入射光分解为两束相干光。样品表面微小高度差导致光程差变化，经物镜聚焦后重新干涉，形成具有浮雕感的立体图像。设备支持明场、暗场、偏光及DIC四种观察模式，用户可通过一键切换满足不同检测需求，尤其适用于低反差样品的无损分析。

应用范围

该显微镜广泛应用于半导体制造（晶圆缺陷检测、导电粒子压合分析）、航空航天材料（高温合金晶粒度评估、涂层界面结合强度测试）、汽车工业（发动机缸体铸造缺陷筛查、齿轮表面疲劳裂纹监测）及3C电子（手机屏幕RGB油墨层厚度测量、精密金属结构件表面粗糙度分析）。其非接触式测量特性，可避免传统方法对样品的破坏，同时支持未腐蚀抛光态样品的直接观察。

技术参数

OST-JX53MBD配备5X-100X长工作距平场消色差物镜，总放大倍数覆盖50X-1000X；载物台移动范围达150×150mm，支持低手位同轴调焦，微调精度0.001mm；采用5W高亮度LED光源，光强连续可调，兼容柯勒照明与斜照明模式；成像系统接口支持4K超清工业相机，可实现实时图像采集、测量及拼接功能。

产品特点

设备采用模块化设计，支持DIC棱镜、偏光组件等扩展功能；内置智能图像处理软件，可自动计算晶粒尺寸、孔隙率等参数，并生成检测报告；人机工学铰链式三目观察筒支持瞳距与视度调节，降低长时间操作疲劳；载物台配备防下滑调节装置与随机上限位功能，确保检测安全性。其开放式架构设计，可兼容第三方自动化产线集成，满足大规模工业检测需求。