工作原理

wylerLEVEL Frame采用电容式位移传感技术：传感器内部电极与测量面形成电容场，当设备发生倾斜时，电容值变化被转换为电信号，经24位ADC模数转换与数字滤波算法处理，最终以0.001°分辨率显示角度值。内置高精度温度传感器可实时补偿环境温差对测量的影响，确保长期稳定性，分辨率达1μrad（0.000057°），适配纳米级平面度检测需求。

应用范围

该设备适用于机床导轨水平度校验、航空航天设备装配基准调整、半导体设备平面度监测、精密光学仪器（如激光干涉仪）安装调平等场景。其高精度特性尤其适合实验室计量与超精密工程需求，例如纳米级工作台平行度验证、高精度机床主轴倾斜监测、芯片制造设备基准校准等。

产品技术参数

测量范围：±0.001°至±90°（可调）

分辨率：0.00001°（1μrad）

精度：±0.0001°（静态），±0.0002°（动态）

温度补偿范围：-20℃至+80℃

显示方式：4.3英寸彩色触控屏（支持角度/平面度/直线度多模式）

数据接口：USB-C/蓝牙5.2/Wi-Fi 6，支持数据导出（CSV/TXT/DXF）

电源：可充电锂电池（续航18小时），AC220V适配器

防护等级：IP68（防尘防水防震）

尺寸：200mm×120mm×50mm，重量＜800g

产品特点

纳米级精度与超宽动态范围：电容式传感器结合24位ADC转换，实现0.00001°分辨率与±0.0001°静态精度，同时支持从微米级平面度到90°大角度测量，适配半导体设备与高精度机床调平需求。

多维度几何误差分析：内置平面度、直线度、平行度算法，可生成三维误差图谱，支持多点扫描与数据拟合，适配超精密工作台与光学平台安装校验。

智能环境自适应：温度补偿模块与振动滤波算法可消除车间热变形与机械震动干扰，确保复杂环境下数据可靠性，符合ISO 10012计量管理体系要求。

用户友好与无线互联：4.3英寸触控屏支持手势操作，内置检测模板库（机床/半导体/建筑），数据可通过Wi-Fi实时传输至云端或移动终端，适配工业物联网（IIoT）需求。

军工级耐用设计：全铝合金机身与IP68防护等级适配极端环境（如高温车间、户外工程），锂电池支持全天候作业，长期使用成本低，通过CE/FCC/ROHS多重认证。

wylerLEVEL Frame凭借其电容式纳米级传感技术与多维度几何误差分析能力，成为超精密角度计量领域的创新解决方案，助力用户从传统水平仪升级至数字智能检测，为半导体制造、航空航天装配及高端机床调平提供极致精度支撑。