一体机光学原子力显微镜
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一体机光学原子力显微镜
来源:苏州飞时曼精密仪器有限公司
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简介: 苏州飞时曼精密仪器有限公司推出的一体机光学原子力显微镜FM-NanoviewOp-AFM,是一款集光学显微成像与原子力显微(AFM)检测功能于一体的创新型表面分析设备。该设备通过同步实现宏观光学观察与纳米级形貌检测,可快速定位样品特征区域并完成高精度三维形貌分析,广泛应用于材料研发、半导体检测及生命科学领域。其一体化设计与智能化软件结合,兼顾了操作便捷性与数据可靠性。
产品详细

FM-Nanoview LS-AFM


工作原理

FM-NanoviewOp-AFM采用光杠杆式AFM技术与光学显微成像系统集成设计。光学模块通过CCD相机实现样品宏观形貌观察与定位,AFM模块则通过微悬臂探针扫描样品表面,利用激光反射检测探针与样品间的原子间作用力,生成纳米级三维形貌数据。设备支持接触模式、轻敲模式及力学曲线测量,可同步获取光学图像与AFM扫描结果。



应用范围

该设备广泛适用于半导体、材料科学、生物医学及精密制造等领域,主要用于:芯片表面缺陷定位与纳米结构分析;金属、陶瓷、高分子材料的表面形貌与粗糙度检测;生物样本(如细胞、DNA)的微观结构观察;以及纳米材料研发、摩擦学研究及工业产品表面质量控制。



产品技术参数


光学分辨率:0.5μm(明场/暗场)

AFM扫描范围:XY轴50μm×50μm,Z轴8μm

XY轴分辨率:0.2nm

Z轴噪声水平:<0.1nm

扫描速度:0.5-20Hz(可调)

探针类型:氮化硅/金属镀层探针(可选)

样品尺寸:最大直径150mm(兼容标准载玻片)

电源:AC220V±10%, 50Hz

外形尺寸:800×600×750mm


产品特点


一体双模设计:光学显微与AFM检测无缝切换,提升定位效率与检测精度。

高稳定性架构:采用大理石基座与抗震设计,适配实验室与工业环境。

智能化软件:内置自动调平、图像拼接及数据分析功能,支持3D形貌重建与统计计算。

用户友好操作:12.1英寸触控屏集成控制,数据可导出为光学图像、AFM扫描图及力学曲线。

多功能扩展:可选配导电探针、高温样品台及液体环境检测模块,适配复杂研究需求。

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标签:一体机光学原子力显微镜,物理检测设备
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