简介： 本发明公开了一种基于等效电容的DBC基板界面裂纹发展状态评估方法，包括：获取待评估DBC基板的等效电容；根据待评估DBC基板的等效电容计算该待评估DBC基板的等效电容百分数；根据待评估DBC基板的等效电容百分数和已获得的DBC基板的等效电容临界百分数判断待评估DBC基板的裂纹发展阶段；当待评估DBC基板的等效电容百分数大于所述等效电容临界百分数时，表明待评估DBC基板铜‑陶瓷界面处的裂纹发展处于裂纹引发阶段；当待评估DBC基板的等效电容百分数等于或小于所述等效电容临界百分数时，表明待评估DBC基板铜‑陶瓷界面处的裂纹发展处于裂纹扩展阶段。本发明是一种准确、简单、无损的测试方法，为DBC基板界面裂纹发展状态的评估提供了新的选择。