简介： 本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法，包括：(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量，扫描的能量范围为280eV至295eV，得到待测样品C 1s的XPS能谱；(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合，调整半高宽、面积、峰形；(3)通过步骤(2)得到的结果，根据含氧官能团总含量与C‑C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析，可通过含氧官能团总含量和C‑C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较，实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。