简介： 本实用新型属于无损检测领域，具体涉及一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块，包括试块主体以及设置在试块主体上的两组人工反射体和两个探头标记；所述两个探头标记分别刻蚀于试块主体上下表面且水平距离≥0，两组人工反射体分别分布于试块主体左右两个区域；其中一组人工反射体沿垂直于试块主体上表面的直线分布，以其中一个探头标记为圆心，水平距离均为50mm，角度范围30~85°，且与试块主体的侧面边界距离≥25mm；另一组人工反射体沿平行于试块主体上表面的直线分布，以另一个探头标记为圆心，垂直距离均为25mm，角度范围5~60°，且与试块主体的侧面边界距离≥25mm；所述人工反射体的直径为2mm。校准方便快捷，无相互干扰。