简介： 一种基于叶绿素荧光技术的作物冷损伤程度分级方法，在不同低温条件下培养作物植株相同时间，获取用于建立分级模型的若干组PSⅡ叶绿素荧光参数以及用于模型验证的若干组PSI叶绿素荧光参数，其中每组PSⅡ叶绿素荧光参数包含15种叶绿素荧光参数，分析不同低温温度及持续时间下作物叶片15种叶绿素荧光参数变化情况；对15种叶绿素荧光参数进行归一化处理后，进行相关性分析，简化选取前4个主成分，基于层次聚类方法对4个主成分相应的综合因子作无监督分类，将作物叶片分为6级，并采用PSI参数Y(I)对分级结果进行验证。本发明可为检测作物冷损伤程度提供新的研究方法，在作物冷害无损诊断方面有良好的前景。