简介： 本发明提供一种基于太赫兹光谱技术的热障涂层微孔隙结构特征表征方法，包括：获取具有不同微孔隙结构特征的热障涂层试样的样本集；利用反射式太赫兹时域光谱系统对热障涂层试样的样本集进行太赫兹特征提取；对热障涂层试样分别进行微孔隙结构特征提取；建立支持向量机模型，并采用上述特征对支持向量机模型进行训练，通过支持向量机模型实现热障涂层微孔隙结构特征的表征。本发明采用太赫兹波对热障涂层进行太赫兹特征提取，易于在线、非接触、无损伤、非电离、可定量地检测被测试样的信号，方法简便可行；本发明采用支持向量机模型，对于小样本数据具有很好的回归能力和泛化能力，且能避免陷入过拟合，适用于各种实际应用。