简介： 一种控制微流控芯片内部亲水化修饰效果的方法，属于微流控芯片亲水化控制技术领域，本发明基于两个硼酸基团修饰的聚集诱导发光分子和含有羟基的聚乙烯醇(PVA)的特异性、选择性识别作用，对经过亲水化处理的微流控芯片内部进行荧光可视化成像标记，并通过荧光显微镜或激光共聚焦显微镜对其内部荧光强度及分布情况进行测量分析控制条件。本方法实现了对微流控芯片中微孔道的原位可视化控制，可解决传统测量中无法对芯片内部实施原位检测的难题，是一种安全、无损、快速有效的可视化识别方法，可广泛应用于材料中对亲水化处理效果的快速筛查。