简介:
本申请涉及无损检测技术领域,公开了一种超声扫描设备及超声扫描方法,该超声扫描设备在现有的超声探头的前端处加装低声阻固定构件以实现与待探测半导体元器件直接接触,从而使得待探测半导体元器件脱离液体扫描环境,避免出现因液体的高声阻导致超声波信号衰减的情况,进一步提高超声成像效果。
本申请涉及无损检测技术领域,公开了一种超声扫描设备及超声扫描方法,该超声扫描设备在现有的超声探头的前端处加装低声阻固定构件以实现与待探测半导体元器件直接接触,从而使得待探测半导体元器件脱离液体扫描环境,避免出现因液体的高声阻导致超声波信号衰减的情况,进一步提高超声成像效果。