简介： 本发明公开了一种远场光学超分辨显微方法，具体涉及对样品表面微小结构的光学超分辨显微方法。本发明通过激光干涉测振仪测量不同微小样品的振动模态，利用样品表面微小结构的本征振动频率差异，再配合亚纳米二维位移扫描平移台，绘制出高分辨的空间位置、激励频率的振动谱和像图，从而实现超分辨显微成像。由于该发明是利用样品表面的微小结构的振动频率差异来标识，而且微小结构的振动是采用激光激励和激光检测，因此该方法具有对样品无标记、无损伤、无污染的特征。