简介： 本发明提供一种基于散射场信息的超声兰姆波层析成像方法，涉及超声波无损检测领域，所述方法包括步骤1：获取待测试件缺陷的散射场数据；步骤2：基于散射场数据，利用缺陷重构算法重构待测试件缺陷的形状和大小。本发明利用超声兰姆波与待测试件缺陷相互作用产生散射场数据，基于散射场数据，使用衍射层析投影定理重构缺陷的形状和大小。