简介： 本发明属无损检测领域，涉及一种射线追踪式超声Lamb波缺陷层析成像方法；先将待测材料成像区域划分为多个小网格，并在此区域两侧设置相同数量的发射EMAT和接收EMAT。然后令所有发射端激发A0模态Lamb波，对侧所有接收端同时接收。对全部检测波形的分析结果提取并记录相应走时，再使用联合迭代重建算法确定每个网格的慢度及缺陷分布，将得到的缺陷分布作为已知条件，建立RT外推公式，利用外推法逐步对射线路径进行追踪并加以修正，如此反复多次，直至通过计算获得较高的成像精度。本发明避免了基于直射线理论的传统TOF跨孔层析成像方法成像精度低的问题，计算准确、高效、快速，为提高缺陷成像精度提供重要依据，具有广阔的应用前景。