简介： 本发明涉及一种对片状小型零件进行探伤的磁化装置及方法，属于无损检测领域。片状零件的磁粉探伤方法一直存在很大困难，尤其是最大尺寸为10mm以下的片状圆形小型零件。由于其尺寸小，且怕烧伤，无法采用直接通电法磁化。采用线圈法磁化时，不仅效率低，还容易发生漏检现象。在航空航天领域中，片状小型零件的种类和数量较多，检测效率存在较大问题。本发明为了使受检的片状小型零件能得到适当的磁化，使得缺陷所产生的漏磁场能够吸附磁粉形成磁痕显示，提出对片状小型零件进行探伤的磁化装置及方法。