简介： 本发明涉及一种聚酰亚胺薄膜表面电荷特性分析方法，包括下列步骤：对聚酰亚胺薄膜样品进行电晕充电；迅速检测电晕充电后所述聚酰亚胺薄膜样品，检测所述聚酰亚胺薄膜样品的表面电位随时间的变化值并记录数据V(t)，其中V表示表面电位，t表示时间；获取时间与V(t)对时间的导数的乘积与时间的关系，即tdV(t)/dt～logt；作出tdV(t)/dt～log对应的曲线，根据曲线状态评估聚酰亚胺薄膜表面电荷积累及消散能力的特性。本方法和装置不需要对聚酰亚胺薄膜进行任何破坏，能够实现无损检测，操作过程简单方便，能够直观、准确而有效地评估样品表面电荷积累及消散能力的情况。