简介:
本发明属于无损检测技术领域,涉及一种单晶片和相控阵超声组合探头。其特征在于:包括中心单晶片探头(1)和环形相控阵探头(2),环形相控阵探头(2)环绕在中心单晶片探头(1)的外面。本发明提出了一种单晶片和相控阵超声组合探头,克服了超声相控阵检测近表面分辨力差的缺点,使其在具备超声相控阵检测高效、灵活等优点的同时,达到了较高的近表面分辨力。
本发明属于无损检测技术领域,涉及一种单晶片和相控阵超声组合探头。其特征在于:包括中心单晶片探头(1)和环形相控阵探头(2),环形相控阵探头(2)环绕在中心单晶片探头(1)的外面。本发明提出了一种单晶片和相控阵超声组合探头,克服了超声相控阵检测近表面分辨力差的缺点,使其在具备超声相控阵检测高效、灵活等优点的同时,达到了较高的近表面分辨力。