简介： 本发明公开了一种基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法，包括：使用高光谱成像系统采集米粒图像并进行图像处理，获取光谱指数；使用化学方法人工测定米粒的蛋白质含量和直链淀粉含量，作为人工测量值；光谱指数与人工测量值相关性分析与建模；光谱指数作为基于图像信息的表型性状进行全基因组关联分析，获取相关的候选基因；候选基因的功能验证。米粒品质的传统人工检测为有损测量，该方法基于高光谱获取米粒表型数据信息，结合光谱与图像处理技术可实现米粒品质相关指标的无损检测，提高检测精度，同时提高GWAS分析结果的准确度。此外，该方法结合遗传转化对候选基因进行功能验证，使验证结果更具有说服力，可为水稻品质育种提供新材料。