简介： 本发明提供了一种基于有效超声背散射信号提取多晶材料的晶粒平均尺寸的方法，属于超声无损表征领域。首先，本方法采用包含全波形存储功能的水浸超声扫查系统和水浸超声聚焦探头对参考试块采集A扫描信号；然后，通过MATLAB计算A扫描信号的空间方差，得到实测实验曲线；之后，建立与实际检测系统相匹配的超声背散射理论模型；最后，拟合实验实测曲线与超声背散射理论模型曲线，采用迭代法求解与参考试块相对应的材料空间相关函数，实现提取晶粒平均尺寸，为多晶材料的超声无损表征平均晶粒尺寸提供解决方案，具有较好的应用前景及推广价值。