简介： 本发明公开了一种基于遗传算法的超声传感器阵列参数的分析方法，用于对GIS壳体焊缝内部缺陷进行检测，属于无损检测领域。该方法以全聚焦成像法则为目标函数，通过遗传算法对超声传感器阵列的中心频率和孔径尺寸进行优化。该方法的优势在于通过与优化算法相结合对超声传感器阵列参数进行优化，可以在全局范围内找出最佳的检测参数组合，克服以往根据经验来多次调整阵列参数，且未必得到最优的阵列参数下的检测结果。由于焊缝中缺陷要比各向同性材料中的缺陷检测难度大，通过该方法找到最优的检测参数，更有利于焊缝内缺陷的检出；因此，此方法具有很强的实用性，并可提高GIS壳体焊缝内部缺陷的检出率。