简介： 一种IGBT器件低频噪声可靠性评价方法，涉及IGBT功率器件可靠性分析领域，解决现有IGBT器件的可靠性研究方法均为有损和破坏性检测。在检测过程中，IGBT器件会瞬间发生损坏或随着时间的增加，IGBT器件的重要电学参数发生变化，造成被测IGBT器件无法正常工作，且不能对IGBT器件的隐性故障时行评价等问题，本发明提出了IGBT低频噪声可靠性评价方法。预测和评系统中IGBT的状态和实际可达到的可靠性，确保电能转换系统以及整个系统的安全运行。相对于现在的IGBT可靠性评价方法，符合隐性故障预测，无损分析，准确可靠的要求。能够客观实现IGBT器件可靠性无损准确评价，反应IGBT器件的实际低频噪声情况，具有方法科学、适用，评价准确、快捷等优点。