半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置
首页 企业 产品 技术 资讯 图库 视频 需求 会议 活动 产业
半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置
来源：北方有色网
访问：865
简介： 本发明设计了一种半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置，该装置能够通过无损方法测试半导体激光器芯片残余应力分布，能够广泛应用于半导体激光器封装器件性能的表征，对于提高半导体激光器性能具有非常重要的现实意义。
本发明设计了一种半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置，该装置能够通过无损方法测试半导体激光器芯片残余应力分布，能够广泛应用于半导体激光器封装器件性能的表征，对于提高半导体激光器性能具有非常重要的现实意义。
0
0
0
0
0
         
标签：无损检测
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
广州铭谦选矿设备有限公司宣传
相关技术
评论（0条）
请登录
200/200
牛津仪器科技（上海）有限公司宣传
发布
技术

顶部
北方有色网-互联网服务平台-关于我们
Copyright 2025 China-mcc.com All Rights Reserved
备案号：京ICP备11044340号-3
电信业务经营许可证编号：京B2-20242293
京公网安备 11010702002294号