简介： 本发明涉及一种高反射物体表面三维测量方法，包括下列步骤：1）借助于双投影仪和相机获取物点坐标和法线信息：使用双投影仪分时向白色平板投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的白色平板上的相移条纹；借助于白色平板位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双投影仪获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；2）采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快，非接触，对高反射物体表面无损伤。