简介： 一种测试激光倍频晶体性质的装置，该装置包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管。测试时，利用激光倍频晶体具有对入射激光进行倍频的性质，采用激光对激光倍频晶体进行照射，产生入射激光的二次谐波，用光电倍增管对出射的二次谐波进行接收，得到二次谐波的光强度，用该装置对激光倍频晶体不同区域进行照射，得到不同区域的二次谐波强度，通过分析不同区域产生二次谐波的强度，可对激光倍频晶体的结构和性质进行判断，无须对晶体进行破坏，就能分析出其内部结构，实现了对激光倍频晶体质量的无损探测。