简介： 本发明涉及一种基于二维拉曼光谱的颗粒粒度测量方法，包括：对于某种颗粒物质，选取已知颗粒粒度的各组颗粒物质，每组颗粒物质为相同颗粒粒度的颗粒物质，采集已知颗粒的各组颗粒物质的二维拉曼光谱；截取每组颗粒物质的特征拉曼谱峰；利用二维数据拟合方法获取特征拉曼谱峰的数学表达式；提取特征拉曼谱峰的半峰宽度W；拟合出颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式；对于待测量颗粒粒度的此种颗粒物质，采集其二维拉曼光谱，按照上述二维数据拟合分析的步骤，得到其半峰宽度W，然后，根据颗粒物质的颗粒粒度P与半峰宽度W之间的关系式，实现颗粒粒度P的测量。本发明可以简单、快速、无损地测量出物质的颗粒粒度。