简介:
选用经最小偏角法测得的AgBr、AgCl的高折 射率(n介10-4)材料作介质;用Interphako显微干 涉法,测玻璃微珠的直径D,干涉条纹位移量b/a, 根据介质的n介,D、b/a,测量时所用光的波长,即 可按公式算出微珠折射率。 本发明方法简便可行,精度高(可达10-4),可对 大批微珠进行逐个、无损的测定。
选用经最小偏角法测得的AgBr、AgCl的高折 射率(n介10-4)材料作介质;用Interphako显微干 涉法,测玻璃微珠的直径D,干涉条纹位移量b/a, 根据介质的n介,D、b/a,测量时所用光的波长,即 可按公式算出微珠折射率。 本发明方法简便可行,精度高(可达10-4),可对 大批微珠进行逐个、无损的测定。