简介： 本发明提供一种采动影响下根系形态观测装置及方法，装置包括：玻璃罩，其上设置有多个孔洞；控制台，所述玻璃罩罩设在所述控制台上；多个升降台，其均位于所述玻璃罩内且紧密排列在所述控制台上；所述升降台上为待观测的土壤及植被；微根管，设置在所述孔洞上；以及X射线层析成像系统，其位于所述控制台附近。本发明可以模拟和观测开采影响下植物根系的生长变化情况和植被受采动影响后的自修复情况。本发明在模拟地表采动变化时较为灵活，可根据需要模拟出不同开采影响程度下植被根系的影响特征和植被的自修复状况，可实现根系的原位、无损、定量观测。