简介： 一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。