简介： 本发明公开了一种基于典型缺陷特征的KDP晶体损伤阈值预测方法，实施步骤包括：预先建立KDP晶体各种典型表面缺陷的光热弱吸收水平与损伤阈值的对应关系；针对待测KDP晶体的表面缺陷进行特征检测确定典型缺陷类型；针对典型表面缺陷区域进行光热弱吸收测量实验得到典型表面缺陷的光热弱吸收值，将典型缺陷类型、典型表面缺陷的光热弱吸收值代入KDP晶体各种典型缺陷的光热弱吸收水平与损伤阈值的对应关系，得到典型表面缺陷的损伤阈值。本发明无损KDP晶体即可进行损伤阈值估计，可避免损伤阈值测试方法的缺陷，不会对晶体造成损伤，提高晶体的利用率，节省加工成本，还能够提升KDP晶体的表面缺陷、用于指导KDP晶体加工工艺。