简介： 磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台，被测芯片放置在测试平台上，磁场发生装置连接电源和调压器，磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置；被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。本实用新型一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。