简介： 本发明提供了一种存储芯片的测试装置及方法，涉及手机存储技术领域。该测试装置包括：测试主板，所述测试主板上设置有中央处理器CPU、可编程逻辑器件FPGA、插座SOCKET夹具以及至少一个存储芯片eMMC颗粒；所述eMMC颗粒放置于所述SOCKET夹具中，所述FPGA通过一个通路与一个eMMC颗粒连接。本发明的方案实现eMMC颗粒的批量无损检测，提升测试验证效率，通过FPGA将CPU及eMMC颗粒之间的DATA和CLK信号进行传输与缓存，并在时序上进行相位移动处理，分别记录异常状态下建立时间和保持时间的时序边界，获取eMMC颗粒的数字化的时序裕量窗口信号，代替了传统的示波器UT测试。