简介:
本发明公开了微波表面电阻连续频谱测试装置,包括固定介质柱和移动介质柱;所述固定介质柱设置于待测超导薄膜上,且移动介质柱连续运动并与固定介质柱产生相对位移,使得移动介质柱和固定介质柱之间电磁场变化。本发明微波表面电阻连续频谱测试装置,通过将固定介质柱和移动介质柱进行相对位移,实现了谐振频率的连续变化从而测得样品微波表面电阻的连续频率谱特性,实现准确连续无损的检测。
本发明公开了微波表面电阻连续频谱测试装置,包括固定介质柱和移动介质柱;所述固定介质柱设置于待测超导薄膜上,且移动介质柱连续运动并与固定介质柱产生相对位移,使得移动介质柱和固定介质柱之间电磁场变化。本发明微波表面电阻连续频谱测试装置,通过将固定介质柱和移动介质柱进行相对位移,实现了谐振频率的连续变化从而测得样品微波表面电阻的连续频率谱特性,实现准确连续无损的检测。