简介： 本实用新型公开了一种三角法非接触式光学元件厚度测量仪，包括测量仪器本体，所述的测量仪器由光源系统、测量平台、图像获取及处理显示系统组成，所述光源系统分别由LED光源和会聚透镜组成；所述测量平台分别由轴台和凹型测量承座组成；凹型测量承座固定于轴台上，轴台是能沿A-A轴上下移动调节的一维轴台，用于调节凹型测量承座的高度，凹型测量承座内自下而上依次放置有基准元件或待测元件；所述图像获取及处理显示系统分别由镜头、CMOS图像传感器及信息处理显示单元组成。本实用新型具有测量精度高、速度快的特点，适合快速无损检测。