简介:
本发明涉及一种基于超声波的物体测厚方法、装置、系统、设备及介质,其包括获取超声波在目标被测物中传播后的一次回波时间和二次回波时间,所述目标被测物为目标被测材料覆有覆盖物的被测物或目标被测材料未覆有覆盖物的被测物;根据所述一次回波时间和二次回波时间的时间差,以及预设的超声波在目标被测材料中的传播速度,确定所述目标被测材料的厚度。本发明能够消除涂层影响,准确测量物体厚度,真正做到无损检测。
本发明涉及一种基于超声波的物体测厚方法、装置、系统、设备及介质,其包括获取超声波在目标被测物中传播后的一次回波时间和二次回波时间,所述目标被测物为目标被测材料覆有覆盖物的被测物或目标被测材料未覆有覆盖物的被测物;根据所述一次回波时间和二次回波时间的时间差,以及预设的超声波在目标被测材料中的传播速度,确定所述目标被测材料的厚度。本发明能够消除涂层影响,准确测量物体厚度,真正做到无损检测。