简介： 一种干涉测量系统成像畸变标定装置，属于光学元件面形干涉测量技术领域，涉及一种干涉测量系统成像畸变标定装置。本发明能够在未知干涉测量系统光学设计参数的前提下，实现高精度被测试光学元件的非接触无损伤原位检测，得出干涉测量系统的成像畸变，且结构紧凑，减轻了重量和节省了空间，减少了误差积累，同时降低了操作的复杂性。所述标定装置为球冠形，在所述标定装置上沿横向和纵向分布有若干个通孔，每个通孔的中心和每个与其相邻的通孔的中心间距相同，每个通孔的中心线均通过所述标定装置所在球面的球心，且其中的一个通孔位于所述标定装置的中心，即为中心通孔。