简介： 一种测量单分子DNA电导率的实验技术方法,其特征是:用改进的动力分子梳将DNA单分子拉直在经APS修饰的云母上,用挡板紧贴住云母的一边,在另一边镀上银膜。把银膜和原子力显微镜的导电针尖分别充当连接DNA单分子两端的两个电极,外接一由可变压电源、滑动变阻器、灵敏电压表和微电流测试仪组成的附加检测器件,由此构成一检测回路系统。本实验技术改进后可以借助原子力显微镜(AFM)测定单分子DNA的电导率,尤其是在实现了DNA分子与金属电极间的欧姆接触的同时,对DNA分子无损伤,与现有的测量方法比较具有操作简单,误差小等优点。