简介： 本发明涉及一种铁磁性材料表面非铁磁材料厚度测量方法及装置，该方法通过将激励探头置于具有不同厚度非铁磁材料的标准试块上，并对激励探头的激励线圈上施加正弦信号，使之产生磁场，并在“U”型磁轭与铁磁性材料表面形成闭合磁路；然后利用检测探头拾取在提离过程中磁路内磁场变化信息，将检测到的磁信号转化成电压信号，并将电压信号输送至PC机，计算得到厚度值；这样，即可对铁磁性材料表面的非铁磁性材料厚度进行测量，具有无损、快速，准确等优点，而且该装置包括依次连接的激励模块、探头模块、信号处理模块、信号采集模块、PC处理显示模块，整个装置抗干扰性强，操作简单，在厚度测量领域具有广阔的应用前景。