简介： 本发明是关于一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法及系统，所述的方法包括：对岩石基底和岩石样品进行检测，获取所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形；对所述的岩石基底的太赫兹脉冲时域波形和所述的岩石样品的太赫兹脉冲时域波形进行处理，得到所述的岩石样品的吸收谱和折射率谱数据。本发明提供的一种基于太赫兹时域光谱测定岩石光学参数的方法及系统，能够对岩石进行快速、无损检测，检测方法易操作，数据处理简单，重复性好。