简介： 本发明提出一种材料内部缺陷的全光学激光超声测定方法。本发明先测定被测物内部缺陷在x-y面上的二维位置和尺寸，然后测定被测物内部缺陷在z方向的深度。本发明方法能够扫查检测得到内部缺陷的三维位置和尺寸信息、具有高精度、高效性、适用于各类材料的无损检测。