简介： 本发明涉及一种能够在宽的波长范围内选择X射线管阳极靶材的某一特征X射线，测量被测晶体材料样品X射线衍射谱的多波长特征X射线衍射测量装置和方法。其装置包括X射线管、高压发生器、狭缝、测角仪、探测器、多道分析器等。本发明免除了滤波片或晶体单色器等的使用而导致特征X射线强度的大幅度衰减，通过调节X射线管的管电压和多道分析器的上、下阈，就能够选取测量所需波长的特征X射线，就能够在同一套装置上，既可以无损地测量样品表面的(波长较长的特征X射线)衍射线又可以无损地测量样品内部的(波长较短的特征X射线)衍射线，而且，本发明所述具有操作简便，检测时间较短，扫描测得的特征X射线衍射谱真实、可靠。