简介： 本发明公开了一种基于光热弱吸收的熔石英元件零概率损伤阈值预测方法，步骤包括预先针对与待测熔石英元件同型号的标准熔石英元件样品对表面的区域进行不同程度加工，针对不同程度加工的区域进行光热检测得到光热检测值并进行激光阈值测试得到零概率损伤阈值，根据各个区域的光热检测值及其对应的零概率损伤阈值建立待测熔石英元件的光热检测‑零概率损伤阈值关联曲线模型；对待测熔石英元件进行光热检测得到光热检测值，根据所述光热检测‑零概率损伤阈值关联曲线模型查找对应的零概率损伤阈值，得到待测熔石英元件的零概率损伤阈值。本发明能够实现对熔石英元件的无损检测、操作简单、准确性高、灵敏度高、能满足强光光学系统使用要求。