简介： 平面波天线零桥断层成像测试装置,属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本发明的微波部分设计采用E面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源,同抛物面反射体组合成一体,简便地构成平面波照射源;同时由微波零桥环路抵消强入射波信号。因而可以精确地检测出目标的微散射场,并直接计算和完成图像处理。由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射波照射,大大提高了系统的分辨力,可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。